<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>치유 on Infrared Heat Limited</title>
		<link>http://ir-heat-ltd.com/ko/tags/%EC%B9%98%EC%9C%A0/</link>
		<description>Recent content in 치유 on Infrared Heat Limited</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ko</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Mon, 01 Jun 2026 02:13:41 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heat-ltd.com/ko/tags/%EC%B9%98%EC%9C%A0/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>반도체 IR용 언더필 경화</title>
				<link>http://ir-heat-ltd.com/ko/posts/underfill-curing-for-semiconductor-ir/</link>
				<pubDate>Mon, 01 Jun 2026 02:13:41 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heat-ltd.com/ko/posts/underfill-curing-for-semiconductor-ir/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-ltd.com/images/e619a459508a95cd74ea4eae0be40cd1.png&#34; alt=&#34;반도체 IR용 언더필 경화&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;라인에서는 시계가 열변위(thermal drift)를 기다려주지 않는다.&lt;br&gt;&#xA;300 mm 팹에서 언더필 경화는 범프, 플립칩 본딩 이후의 마지막 단계에 위치하며, 처리량과 수율은 초 단위로 측정되고, 결함은 마이크론 단위로 측정된다. 열 프로파일이 변동하면 보이드, 필렛 붕괴, 또는 나중에 현장 불량으로 이어지는 CTE 불일치 응력이 발생한다. IR 소스의 출력이 부족하면 오븐이 체류 시간을 늘려 보상하며, 라인은 속도를 따라가지 못한다.&lt;br&gt;&#xA;우리는 반도체 IR 언더필 경화를 한 가지 엄격한 요구사항 아래 설계했다: 스펙처럼 작동하는 공정 제어, 희망사항이 아니라.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
